臺(tái)式氨氮測(cè)定儀的預(yù)熱過(guò)程是保障光源穩(wěn)定性、溫控精度及電路系統(tǒng)正常運(yùn)行的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。若預(yù)熱失?。ㄈ缰甘緹舫掷m(xù)閃爍、溫度無(wú)法達(dá)標(biāo)、提示錯(cuò)誤代碼等),需從儀器核心部件及外部條件逐一排查原因。 
一、光源系統(tǒng)故障 光源(如鹵鎢燈、LED燈)是預(yù)熱的核心部件,其異常直接導(dǎo)致預(yù)熱失敗,常見(jiàn)原因包括: 1. 光源老化或損壞 光源使用壽命通常為1000-3000小時(shí)(不同型號(hào)差異較大),超過(guò)期限后發(fā)光強(qiáng)度下降且穩(wěn)定性變差,表現(xiàn)為“預(yù)熱時(shí)間延長(zhǎng)”或“始終顯示未就緒”??赏ㄟ^(guò)觀察:若開(kāi)機(jī)后光源亮度明顯變暗,或用萬(wàn)用表檢測(cè)燈座電壓(無(wú)電壓輸出則為光源損壞)。 2. 光路遮擋或污染 比色池內(nèi)殘留的試劑結(jié)晶、灰塵覆蓋光路通道,會(huì)導(dǎo)致儀器自檢時(shí)無(wú)法識(shí)別光源信號(hào),觸發(fā)預(yù)熱失敗。例如,納氏試劑殘留后形成棕褐色沉淀,若附著在比色池內(nèi)壁,會(huì)吸收光線,使儀器判定“光源異?!?。排查時(shí)需打開(kāi)儀器蓋,用鏡頭紙擦拭光路鏡片及比色池。 3. 光源驅(qū)動(dòng)電路故障 驅(qū)動(dòng)板損壞會(huì)導(dǎo)致光源供電不穩(wěn)定(如電壓波動(dòng)),表現(xiàn)為光源忽明忽暗,無(wú)法穩(wěn)定發(fā)光。此類問(wèn)題需專業(yè)人員檢測(cè)電路模塊,更換損壞的電容或電阻。 二、溫控系統(tǒng)異常(針對(duì)帶恒溫功能機(jī)型) 部分氨氮測(cè)定儀需預(yù)熱恒溫模塊(如37℃反應(yīng)槽),若溫度無(wú)法達(dá)標(biāo),常見(jiàn)原因有: 1. 加熱元件損壞 加熱絲或加熱片老化斷裂后,無(wú)法正常發(fā)熱,表現(xiàn)為“設(shè)定溫度37℃,但實(shí)測(cè)始終低于25℃”。可通過(guò)觸摸反應(yīng)槽判斷——若長(zhǎng)時(shí)間預(yù)熱后仍無(wú)溫?zé)岣?,基本可判定加熱元件故障?/p> 2. 溫度傳感器故障 傳感器(如熱電偶)失靈會(huì)導(dǎo)致溫度檢測(cè)失真,儀器誤判“已達(dá)到設(shè)定溫度”或“溫度過(guò)高”。例如,傳感器故障可能顯示“37℃”,但實(shí)際僅20℃,此時(shí)顯色反應(yīng)無(wú)法正常進(jìn)行,后續(xù)檢測(cè)數(shù)據(jù)必然偏差。 3. 散熱或保溫問(wèn)題 恒溫模塊的散熱孔堵塞(積灰過(guò)多)會(huì)導(dǎo)致過(guò)熱保護(hù)啟動(dòng),自動(dòng)停止加熱;保溫層破損(如儀器摔碰后)則會(huì)因熱量流失,始終無(wú)法達(dá)到設(shè)定溫度。需定期清理散熱孔,檢查保溫層完整性。 三、外部環(huán)境與操作因素 1. 供電不穩(wěn)定 電源電壓波動(dòng)(如低于198V或高于242V)會(huì)影響儀器電路穩(wěn)定性,導(dǎo)致預(yù)熱中斷??墒褂梅€(wěn)壓器測(cè)試,若連接穩(wěn)壓器后預(yù)熱正常,則說(shuō)明供電是主要原因。 2. 環(huán)境溫度極端 環(huán)境溫度低于10℃時(shí),儀器散熱過(guò)快,恒溫模塊負(fù)荷過(guò)大;高于35℃時(shí),散熱困難易觸發(fā)過(guò)熱保護(hù)。建議將實(shí)驗(yàn)室溫度控制在15-30℃,必要時(shí)使用空調(diào)調(diào)節(jié)。 3. 儀器未復(fù)位或程序錯(cuò)誤 頻繁開(kāi)關(guān)機(jī)可能導(dǎo)致儀器程序紊亂,表現(xiàn)為“預(yù)熱進(jìn)度停滯”。可關(guān)閉儀器電源,等待30秒后重新啟動(dòng),讓程序復(fù)位;若仍失敗,需聯(lián)系廠家更新固件。 預(yù)熱失敗本質(zhì)是儀器核心部件或外部條件未滿足穩(wěn)定運(yùn)行要求。排查時(shí)可按“外部(供電、環(huán)境)→基礎(chǔ)部件(光源、加熱元件)→精密部件(傳感器、電路)”的順序逐步檢測(cè),避免盲目拆機(jī)。日常使用中,定期清潔光路、維護(hù)供電穩(wěn)定,可大幅降低預(yù)熱失敗概率。
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